描述
氮化铪靶材(HfN)
产品简介(Introduction)
氮化铪(HfN)是一种高性能过渡金属氮化物材料,具有极高的熔点、优异的热稳定性、良好的导电性以及出色的化学惰性。在先进半导体工艺中,HfN 常被用于 扩散阻挡层、金属栅极材料、薄膜电阻及高温稳定功能层,特别适用于对可靠性和耐高温性能要求极高的应用场景。
通过磁控溅射方式使用 HfN 靶材,可沉积出致密、均匀、低缺陷的氮化铪薄膜,广泛应用于 CMOS 器件、微电子结构及前沿薄膜材料研究。
产品详情(Detailed Description)
苏州科跃材料科技有限公司可提供高纯度、高致密度、规格可定制的 HfN 溅射靶材,适配多种 PVD 工艺需求。
● 可提供规格
-
纯度:99.9%(3N)– 99.99%(4N)
-
化学组成:HfN / HfNₓ(氮含量可调)
-
尺寸范围:Φ25–300 mm
-
厚度范围:3–6 mm(支持定制)
-
形状:圆靶、矩形靶、阶梯靶、异形靶
-
制造工艺:热压烧结(HP)、真空烧结、CIP/HIP
-
致密度:≥95% 理论密度
-
背板结合:Cu / Ti 背板,支持铟焊(Indium Bonding)
● 材料特性
-
熔点高(>3300 °C),适合高温工艺
-
电导率优良,可用于导电或半导体功能层
-
扩散阻挡性能优异
-
薄膜附着力强,与 Si、SiO₂、High-k 材料兼容
-
耐腐蚀、耐等离子体刻蚀
应用领域(Applications)
氮化铪(HfN)溅射靶材主要应用于以下领域:
1. 半导体扩散阻挡层(Diffusion Barrier)
用于 Cu / Al 互连结构中,抑制金属扩散,提高器件可靠性。
2. 金属栅极与接触层(Metal Gate & Contacts)
在先进 CMOS 工艺中用作金属栅材料或过渡层。
3. 薄膜电阻与功能层
用于精密电阻网络、MEMS 及射频器件。
4. 高温稳定涂层
适用于高温环境下的功能薄膜与保护层。
5. 新材料与界面工程研究
用于研究高熔点氮化物薄膜的电学与结构特性。
技术参数(Technical Parameters)
| 参数 | 范围 / 典型值 | 说明 |
|---|---|---|
| 纯度 | 3N–4N | 高纯度有助于降低薄膜缺陷 |
| 化学组成 | HfN / HfNₓ | 氮含量可调 |
| 直径 | 25–300 mm | 适配主流溅射设备 |
| 厚度 | 3–6 mm | 影响溅射稳定性 |
| 致密度 | ≥95% TD | 提升薄膜致密性 |
| 背板 | Cu / Ti / 铟焊 | 改善散热与结构稳定性 |
相关材料对比(Comparison with Related Materials)
常见问题(FAQ)
| 问题 | 答案 |
|---|---|
| HfN 靶材适合 RF 还是 DC 溅射? | RF 与 DC 均可,视设备和膜层需求而定。 |
| HfN 是否适合高温工艺? | 是,HfN 具有极高热稳定性。 |
| HfN 与 HfO₂ 工艺是否兼容? | 兼容,可用于 High-k 栅结构体系。 |
| 是否支持大尺寸靶材? | 支持 8″ / 12″ 及更大尺寸定制。 |
| 是否提供背板铟焊? | 支持 Cu / Ti 背板与铟焊。 |
| 是否可提供检测报告? | 可提供 ICP、密度、尺寸等检测文件。 |
包装与交付(Packaging)
-
真空密封包装
-
干燥剂防潮保护
-
防震泡沫固定
-
出口级纸箱或木箱
-
每片靶材附唯一溯源码与质检记录
结论(Conclusion)
氮化铪靶材(HfN)凭借其卓越的高温稳定性、扩散阻挡性能及良好的导电特性,在先进半导体制造、金属栅结构及高可靠性薄膜应用中发挥着关键作用。苏州科跃材料科技有限公司可提供高纯度、高致密度、可定制规格的 HfN 溅射靶材,为科研与高端制造提供稳定可靠的材料支持。
如需报价或技术支持,请联系:
📧 sales@keyuematerials.com
.png)
评价
目前还没有评价