氮化铝靶材(AlN)

产品简介(Introduction)

氮化铝(Aluminum Nitride,AlN)是一种性能卓越的Ⅲ族氮化物陶瓷材料,具有极高的热导率、优异的电绝缘性能、宽禁带特性以及良好的化学稳定性。AlN 在半导体、功率电子、射频器件、LED 以及高散热薄膜结构中发挥着关键作用,是先进电子与光电器件中不可或缺的重要材料。

采用磁控溅射工艺使用 AlN 靶材,可稳定制备致密、均匀、低缺陷的氮化铝薄膜,广泛应用于绝缘层、缓冲层、热管理层及功能薄膜制备。


产品详情(Detailed Description)

苏州科跃材料科技有限公司可提供高纯度、高致密度、规格可定制的氮化铝溅射靶材,适配多种 PVD 工艺需求。

● 可提供规格

  • 纯度:99.9%(3N)– 99.999%(5N)

  • 化学组成:AlN

  • 尺寸范围:Φ25–300 mm

  • 厚度范围:3–6 mm(可定制更薄或更厚)

  • 形状:圆靶、矩形靶、阶梯靶、异形靶

  • 制造工艺:热压烧结(HP)、真空烧结、CIP/HIP

  • 致密度:≥95% 理论密度

  • 背板结合:Cu / Al / Ti 背板,支持铟焊(Indium Bonding)

● 材料特性

  • 热导率高(适合散热薄膜与热管理应用)

  • 宽禁带(~6.2 eV),优异电绝缘性能

  • 薄膜应力可控,适合大面积沉积

  • 与 Si、SiC、GaN、Al₂O₃ 等基底兼容性好

  • 化学稳定性强,耐高温、耐腐蚀


应用领域(Applications)

氮化铝(AlN)溅射靶材广泛应用于以下领域:

1. 电子与功率器件绝缘层

用于功率模块、IGBT、MOSFET 等器件中的高可靠绝缘薄膜。

2. 高导热薄膜与热管理层

作为散热层用于高功率电子与 LED 器件。

3. 半导体缓冲层与过渡层

在 GaN-on-Si、GaN-on-SiC 结构中作为关键缓冲层材料。

4. 压电与声学器件(SAW / BAW)

AlN 具有良好的压电性能,适用于声表面波与体声波器件。

5. 光电与显示技术

用于 LED、Micro-LED、显示器件中的功能薄膜结构。

6. 科研与新材料开发

用于氮化物薄膜结构、电学与热学性能研究。


技术参数(Technical Parameters)

参数 范围 / 典型值 说明
纯度 3N–5N 高纯度可显著降低薄膜缺陷
化学组成 AlN 稳定单一相
直径 25–300 mm 适配主流溅射系统
厚度 3–6 mm 影响靶材寿命与沉积稳定性
致密度 ≥95% TD 提升薄膜致密性与均匀性
背板 Cu / Al / Ti / 铟焊 改善散热与机械稳定性

相关材料对比(Comparison with Related Materials)

材料 主要特点 典型应用
AlN 高热导、绝缘性优异 散热层、绝缘层
Si₃N₄ 机械强度高 保护层、结构膜
GaN 高电子迁移率 功率器件
Al₂O₃ 成熟稳定、成本低 绝缘与光学膜

常见问题(FAQ)

问题 答案
AlN 靶材适合 RF 还是 DC 溅射? 通常推荐 RF 磁控溅射。
AlN 薄膜是否导电? 不导电,AlN 是优良的电绝缘材料。
是否适合高功率电子散热? 是,AlN 具有优异的热导率。
是否支持大尺寸靶材? 支持 8″ / 12″ 及更大尺寸定制。
是否提供背板铟焊结构? 支持 Cu / Al / Ti 背板与铟焊。
是否可提供检测报告? 可提供 ICP、密度、尺寸等检测文件。

包装与交付(Packaging)

  • 真空密封包装

  • 干燥剂防潮保护

  • 防震泡沫固定

  • 出口级纸箱或木箱

  • 每片靶材附唯一溯源码与质检记录


结论(Conclusion)

氮化铝靶材(AlN)凭借其卓越的热导率、电绝缘性能与化学稳定性,在高功率电子、半导体器件、声学元件及先进薄膜工艺中占据核心地位。苏州科跃材料科技有限公司可提供高纯度、高致密度、可定制规格的 AlN 溅射靶材,为科研与工业客户提供稳定可靠的材料支持。

如需报价或技术支持,请联系:
📧 sales@keyuematerials.com