氮化硅靶材(SiN)

氮化硅靶材(SiN / Si₃N₄)

产品简介(Introduction)

氮化硅(SiNₓ,常见为 Si₃N₄)是一种应用极为广泛的无机非金属材料,具有 优异的电绝缘性能、高介电强度、良好的热稳定性、耐腐蚀性以及出色的机械强度。在半导体制造、微电子器件、光学薄膜和保护涂层领域,SiN 薄膜是最重要的功能膜材料之一。

作为磁控溅射靶材,SiN 可用于沉积 致密、低缺陷、应力可控的氮化硅薄膜,广泛应用于介电层、钝化层、扩散阻挡层及光学功能膜。


产品详情(Detailed Description)

  • 化学式: Si₃N₄(或 SiNₓ)

  • 纯度: 99.9% – 99.99%

  • 外观: 深灰色至灰白色陶瓷质感

  • 尺寸范围: Ø25–300 mm(支持方形、矩形、异形定制)

  • 厚度: 2–6 mm(可按设备与寿命需求定制)

  • 致密度: ≥95% 理论密度(可提供高致密版本)

  • 制造工艺:

    • 高纯原料合成

    • 冷等静压(CIP)或热压烧结(HP)

    • 真空烧结 / 热等静压(HIP,可选)

    • 精密研磨、倒角与清洗

  • 背板选项: Cu / Al / Ti / 铟焊(Indium Bonding)

  • 适用工艺: RF 磁控溅射(推荐)、反应溅射(Si + N₂)、离子束沉积

说明:SiN 为绝缘型陶瓷靶材,工业与科研应用中通常采用 RF 溅射。


应用领域(Applications)

  • 半导体介电层与钝化层
    用于晶体管、存储器、功率器件的介电绝缘与表面钝化。

  • 扩散阻挡层(Diffusion Barrier)
    防止金属与硅基底之间的相互扩散。

  • 光学与光电子薄膜
    用于抗反射膜、折射率调控膜及光波导结构。

  • 保护与耐腐蚀涂层
    提供优异的化学稳定性和环境防护能力。

  • MEMS 与传感器器件
    作为结构层或功能绝缘层使用。


技术参数(Technical Parameters)

参数 典型值 / 范围 说明
纯度 99.9%–99.99% 降低漏电与薄膜缺陷
直径 Ø25–300 mm 适配主流溅射系统
厚度 2–6 mm 可按功率与寿命定制
致密度 ≥95% 提升溅射稳定性
电学性质 绝缘 适合介电层应用
背板 Cu / Al / In bonding 改善散热、防止开裂

相关材料对比(Comparison with Related Materials)

材料 特点 典型应用
Si₃N₄ 绝缘性强、稳定性高 半导体介电层
SiO₂ 工艺成熟 绝缘/光学膜
Al₂O₃ 机械强度高 保护层
SiON 折射率可调 光学薄膜

常见问题(FAQ)

  • SiN 靶材适合 DC 还是 RF?
    绝缘型材料,推荐 RF 溅射。

  • SiN 薄膜应力大吗?
    可通过功率、气压与 N₂ 比例调节应力。

  • 是否支持 Si-rich / N-rich 定制?
    支持 SiNₓ 成分可控定制。

  • 是否建议使用背板?
    中高功率或大尺寸靶材建议使用。


包装与交付(Packaging)

  • 单片真空密封包装

  • 防静电袋 + 防震泡棉

  • 出口级木箱

  • 提供纯度、尺寸与批次追溯文件


结论(Conclusion)

氮化硅靶材(SiN / Si₃N₄)凭借其卓越的电绝缘性能、热稳定性和工艺成熟度,是半导体与功能薄膜领域不可或缺的核心材料。苏州科跃材料科技有限公司可为您提供 高纯度、高致密度、全规格定制的 SiN 溅射靶材,满足从科研到量产的多样化需求。

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