钛钨靶材(TiW)

钛钨靶材(TiW)

产品简介(Introduction)

钛钨靶材(TiW)由钛(Ti)与钨(W)组成,是半导体制造与微电子薄膜工艺中最重要的金属合金靶材之一。TiW 合金兼具钛的高粘附性与钨的高熔点、强度和耐腐蚀性能,可沉积出具有优异粘附力、低电阻率、高稳定性和良好结构完整性的金属薄膜。

TiW 薄膜具有出色的扩散阻挡能力(特别是对 Cu、Au 的扩散抑制效果显著),因此广泛用于晶圆制造、互连结构、金属栅极、电阻薄膜、传感器等关键领域。


产品详情(Detailed Description)

TiW 靶材由高纯钛粉和钨粉混合,经冷等静压(CIP)压制后,通过真空烧结(Vacuum Sintering)或热等静压(HIP)工艺致密化。材料内部结构均匀、膜层颗粒率低,适合高功率磁控溅射。

常规产品参数:

  • 纯度(Purity):99.9%–99.99%

  • 典型成分比例(Composition)

    • Ti10W90(最常用)

    • Ti20W80

    • Ti30W70
      (可根据工艺需求定制 Ti/W 比例)

  • 直径(Diameter):Ø25–Ø300 mm

  • 厚度(Thickness):3–6 mm

  • 致密度(Density):≥95%–99% TD

  • 工艺路线:CIP + 真空烧结 / HIP

  • 背板(Bonding):Cu / Ti 背板或铟焊可选

材料性能优势:

  • 极佳的粘附力,可直接作为金属/基底间的粘附层

  • 优秀的抗扩散能力,尤其对 Cu / Au

  • 高温稳定性和结构完整性强

  • 电阻率低且均匀性好

  • 成膜致密、表面平整

  • 可用于高可靠性金属互连结构


应用领域(Applications)

TiW 是半导体产业关键靶材,广泛用于晶圆制造与精密电子薄膜。

1. 半导体工艺(Semiconductors)

  • Cu / Au 扩散阻挡层

  • 金属粘附层(Adhesion Layer)

  • 晶圆互连结构

  • 金属栅极电极

  • vias / contacts 层结构

2. 微电子与封装(Microelectronics)

  • 片上电阻薄膜

  • 金属保护层

  • 电极结构金属膜

3. 光电器件(Optoelectronics)

  • 金属反射层

  • 功能薄膜层(如阻隔膜、结构膜)

4. 科研薄膜工程(Research Thin Films)

用于研究:

  • 合金结构调控

  • 金属/半导体界面工程

  • 导电薄膜稳定性

TiW 适用于 DC 磁控溅射、RF 磁控溅射、共溅射、反应溅射 等工艺。


技术参数(Technical Parameters)

参数 数值范围 重要性说明
纯度 99.9%–99.99% 提高薄膜纯净度与电性一致性
成分比例 Ti10W90(常规)可定制 决定电阻率、粘附性与阻挡性能
致密度 ≥95–99% TD 颗粒低、成膜均匀性好
厚度 3–6 mm 影响靶材寿命与沉积速度
直径 Ø25–300 mm 适配生产与科研设备
背板 Cu / Ti / In 大尺寸靶材散热效果更佳

相关材料对比(Comparison)

材料 特点 典型用途
TiW 优异粘附力 + 强阻挡性 半导体互连、粘附层
W(钨靶材) 极高硬度 & 熔点 耐热膜、反射层
Ti(钛靶材) 良好附着性 粘附层、结构膜
TiN / TiAlN 更高耐磨与耐热 工具涂层、硬质膜

常见问题(FAQ)

问题 答案
TiW 最常用的比例是什么? Ti10W90,是半导体行业标准配比。
TiW 可否用于 Cu 工艺? 是,其阻挡 Cu 扩散性能非常突出。
TiW 靶材会脆吗? 高 T 四元结构,加上 HIP 致密化后性能稳定,不易开裂。
是否适合反应溅射? 可用于氮化、氧化等反应性溅射。
是否需要背板? 大尺寸靶材强烈建议使用 Ti 或 Cu 背板散热。

包装(Packaging)

  • 真空密封包装

  • 防震泡沫层保护

  • 干燥剂防潮

  • 出口级硬盒/木箱

  • 唯一批号可全程追踪

确保靶材在运输中的稳定与洁净。


结论(Conclusion)

钛钨靶材(TiW)是半导体与微电子制造领域最重要的金属合金靶材之一,提供优异的粘附性、扩散阻挡性能与高结构可靠性。苏州科跃材料科技有限公司可提供不同配比、不同尺寸、不同背板结构的 TiW 靶材,为研发与量产客户提供高质量金属薄膜材料解决方案。

如需更多技术参数或报价,请联系:
📩 sales@keyuematerials.com