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钛钨靶材(TiW)由钛(Ti)与钨(W)组成,是半导体制造与微电子薄膜工艺中最重要的金属合金靶材之一。TiW 合金兼具钛的高粘附性与钨的高熔点、强度和耐腐蚀性能,可沉积出具有优异粘附力、低电阻率、高稳定性和良好结构完整性的金属薄膜。
TiW 薄膜具有出色的扩散阻挡能力(特别是对 Cu、Au 的扩散抑制效果显著),因此广泛用于晶圆制造、互连结构、金属栅极、电阻薄膜、传感器等关键领域。
TiW 靶材由高纯钛粉和钨粉混合,经冷等静压(CIP)压制后,通过真空烧结(Vacuum Sintering)或热等静压(HIP)工艺致密化。材料内部结构均匀、膜层颗粒率低,适合高功率磁控溅射。
常规产品参数:
纯度(Purity):99.9%–99.99%
典型成分比例(Composition):
Ti10W90(最常用)
Ti20W80
Ti30W70
(可根据工艺需求定制 Ti/W 比例)
直径(Diameter):Ø25–Ø300 mm
厚度(Thickness):3–6 mm
致密度(Density):≥95%–99% TD
工艺路线:CIP + 真空烧结 / HIP
背板(Bonding):Cu / Ti 背板或铟焊可选
材料性能优势:
极佳的粘附力,可直接作为金属/基底间的粘附层
优秀的抗扩散能力,尤其对 Cu / Au
高温稳定性和结构完整性强
电阻率低且均匀性好
成膜致密、表面平整
可用于高可靠性金属互连结构
TiW 是半导体产业关键靶材,广泛用于晶圆制造与精密电子薄膜。
Cu / Au 扩散阻挡层
金属粘附层(Adhesion Layer)
晶圆互连结构
金属栅极电极
vias / contacts 层结构
片上电阻薄膜
金属保护层
电极结构金属膜
金属反射层
功能薄膜层(如阻隔膜、结构膜)
用于研究:
合金结构调控
金属/半导体界面工程
导电薄膜稳定性
TiW 适用于 DC 磁控溅射、RF 磁控溅射、共溅射、反应溅射 等工艺。
| 参数 | 数值范围 | 重要性说明 |
|---|---|---|
| 纯度 | 99.9%–99.99% | 提高薄膜纯净度与电性一致性 |
| 成分比例 | Ti10W90(常规)可定制 | 决定电阻率、粘附性与阻挡性能 |
| 致密度 | ≥95–99% TD | 颗粒低、成膜均匀性好 |
| 厚度 | 3–6 mm | 影响靶材寿命与沉积速度 |
| 直径 | Ø25–300 mm | 适配生产与科研设备 |
| 背板 | Cu / Ti / In | 大尺寸靶材散热效果更佳 |
| 材料 | 特点 | 典型用途 |
|---|---|---|
| TiW | 优异粘附力 + 强阻挡性 | 半导体互连、粘附层 |
| W(钨靶材) | 极高硬度 & 熔点 | 耐热膜、反射层 |
| Ti(钛靶材) | 良好附着性 | 粘附层、结构膜 |
| TiN / TiAlN | 更高耐磨与耐热 | 工具涂层、硬质膜 |
| 问题 | 答案 |
|---|---|
| TiW 最常用的比例是什么? | Ti10W90,是半导体行业标准配比。 |
| TiW 可否用于 Cu 工艺? | 是,其阻挡 Cu 扩散性能非常突出。 |
| TiW 靶材会脆吗? | 高 T 四元结构,加上 HIP 致密化后性能稳定,不易开裂。 |
| 是否适合反应溅射? | 可用于氮化、氧化等反应性溅射。 |
| 是否需要背板? | 大尺寸靶材强烈建议使用 Ti 或 Cu 背板散热。 |
真空密封包装
防震泡沫层保护
干燥剂防潮
出口级硬盒/木箱
唯一批号可全程追踪
确保靶材在运输中的稳定与洁净。
钛钨靶材(TiW)是半导体与微电子制造领域最重要的金属合金靶材之一,提供优异的粘附性、扩散阻挡性能与高结构可靠性。苏州科跃材料科技有限公司可提供不同配比、不同尺寸、不同背板结构的 TiW 靶材,为研发与量产客户提供高质量金属薄膜材料解决方案。
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