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硫化锗(GeS)是一种典型的 IV–VI 族层状半导体材料,具有可调能带结构、优异的光电响应、高吸光系数、显著的各向异性以及稳定的化学性质。其二维结构与黑磷类似,但具有更高的环境稳定性,因而近年来在光电器件、场效应晶体管、红外探测、非线性光学及柔性电子中备受关注。
作为溅射靶材,GeS 能沉积成分均匀、致密性高、晶体质量良好的薄膜,是科研院所、材料实验室及半导体开发企业制备 GeS 及相关异质结构的重要原料。
苏州科跃材料科技有限公司生产的 GeS 靶材采用高纯锗粉与硫粉,通过严格计量反应、冷等静压(CIP)、固相反应烧结、热压(HP/HIP)及精密研磨工艺制备,确保靶材具备高密度、低杂质、高结构完整性与优异溅射稳定性。
纯度:99.9% – 99.999%(3N–5N)
尺寸:圆靶 Ø25–300 mm,方靶根据需求定制
厚度:3–10 mm
密度:≥ 95% 理论密度
工艺路线:CIP → 真空固相反应 → HP/HIP → 精加工
背板选择:Cu / Ti 背板,可铟焊(Indium bonding)或扩散焊
可定制化学计量比:GeS、GeS₁₊ₓ、Ge₂S₃ 等
高纯度确保光电薄膜性能稳定
高致密度结构减少溅射颗粒与靶材崩边
成分均匀,适用于成膜参数敏感型应用
对二维材料研究尤其友好,可用于 GeS 超薄片制备
长时间溅射保持良好稳定性
GeS 具有宽带隙与高吸收系数,可用于:
宽谱光电探测器(Visible–NIR)
光敏开关
光电二极管
GeS 与 GeSe、SnS、MoS₂ 等二维材料可构建异质结构,用于:
场效应晶体管(FET)
低维电子器件
固态光子学
可作为:
吸收层
阻挡层
电荷传输层
GeS 的晶体各向异性赋予其强烈的非线性响应,用于:
激光调制
光学频率转换
Ge–S 系材料具有潜在热电性能,可用于:
微热电转换器
中红外吸收器件
| 参数 | 范围 / 典型值 | 重要性说明 |
|---|---|---|
| 纯度 | 99.9–99.999% | 高纯材料可获得更低缺陷密度的薄膜 |
| 直径 | Ø25–300 mm | 覆盖科研与工业全面需求 |
| 厚度 | 3–10 mm | 厚度影响靶材寿命与热管理能力 |
| 密度 | ≥ 95% 理论密度 | 提升薄膜致密度,减少颗粒 |
| 背板 | Cu / Ti / In bonding | 提升散热并减少靶材开裂风险 |
| 制备工艺 | CIP / HP / HIP / Solid-State Reaction | 强化结构稳定性和材料均匀度 |
| 材料 | 特点 | 应用场景 |
|---|---|---|
| GeS | 结构稳定、2D 特性突出、光电性能好 | 光电探测、FET、光学薄膜 |
| GeSe | 带隙更小、光吸收更强 | 红外探测、光伏 |
| SnS | 环保光伏材料 | 太阳能电池吸收层 |
| MoS₂ | 电子迁移率高 | 2D 晶体管、光电器件 |
| Ge₂S₃ | 高透明性、良好光学性能 | 光学薄膜、红外组件 |
| 问题 | 答案 |
|---|---|
| GeS 靶材适用于 RF 还是 DC? | 两者均可,RF 更适合对成分要求较高的应用。 |
| 靶材是否脆? | 属于脆性硫化物类,但高致密度工艺降低了碎裂风险。 |
| 是否支持定制 Ge:S 比例? | 是,可按照需求提供 GeS、Ge₂S₃、偏硫化材料等。 |
| 是否会氧化? | 较稳定,短时间空气暴露无问题,建议使用真空密封保存。 |
| 是否适用二维材料剥离? | 是,GeS 是热门 2D 材料之一。 |
| 靶材可提供多大尺寸? | 最大可提供 Ø300 mm。 |
| 是否支持一片起订? | 支持,一片起订,适合科研用户。 |
真空密封包装防止吸湿
内置防震缓冲结构
外层出口级木箱保护
每片靶材均附带 ICP 杂质分析、密度测试与尺寸检验报告
确保运输过程中的安全、洁净与可追溯性。
硫化锗靶材(GeS)因其优异的光电性能、二维材料潜力与良好的化学稳定性,在光电器件、红外探测、非线性光学和先进半导体研究中占据重要地位。苏州科跃材料可提供高纯度、高致密度、多规格的 GeS 靶材,满足科研实验与产业化薄膜制备的需求。
如需报价、技术数据或样品,请联系:
📧 sales@keyuematerials.com
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苏州科跃材料科技有限公司是一家专注于高纯材料、薄膜沉积靶材、特种合金及磁性材料研发与生产的高新技术企业。我们提供从高纯金属(3N~6N)、溅射靶材、蒸发材料到特种合金、磁性组件及定制加工的一站式材料解决方案,服务于半导体、新能源、航空航天、科研院所等领域。
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