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硅化钽靶材(TaSi)是一种典型的金属间化合物靶材,结合了钽(Ta)的高熔点与化学惰性,以及硅(Si)的优异界面特性,能形成高稳定性、优异导电性及抗扩散能力的功能薄膜。在先进半导体制造、光电镀膜、耐高温保护膜及微电子封装中,TaSi 是关键材料之一。
核心优势包括:
卓越的 热稳定性与抗扩散能力,适用于高温沉积与后续退火;
适度电阻率,可作为电极、阻挡层、过渡层使用;
良好的 化学稳定性,适用于苛刻工况下的功能膜层;
膜层结构致密、均匀,适合用于多层膜及光学膜。
我司供应 高纯 99.9%(3N)– 99.99%(4N) 硅化钽靶材,采用真空热压烧结、CIP/HIP 加致密处理,确保靶材致密度高、晶相均匀、机械强度好,适用于高功率磁控溅射。
化学组成: TaSi₂(常用)、Ta₅Si₃、TaSi(可定制)
尺寸范围: Ø25–300 mm 圆靶、矩形靶可定制
厚度: 3–6 mm
密度: ≥95–98% 理论密度(TD)
制造工艺: 真空烧结 / 熔炼 + 热压 / HIP
背板结合: 铜(Cu)、钛(Ti)、铟焊(In bonding)可选
高致密靶材有助于:
减少颗粒(Particles),获得更洁净膜层;
提升膜层附着力、改善应力结构;
增强靶材耐热冲击能力,降低溅射过程中开裂风险;
提高膜厚均匀性,适用于大面积镀膜。
金属化阻挡层(Barrier Layer)
深亚微米互连结构
栅电极材料
高温稳定的界面层
反射膜、增强膜
近红外吸收薄膜
多层干涉膜系统
EMI 保护层
导电/阻挡复合膜
结构保护涂层
Ta-Si 金属间化合物体系研究
共溅射复合薄膜制备
高温耐蚀薄膜结构开发
| 参数 | 典型值 / 范围 | 重要性说明 |
|---|---|---|
| 纯度 | 99.9% – 99.99% | 高纯靶材减少颗粒,提升薄膜稳定性 |
| 尺寸 | Ø25–300 mm | 适应主流及定制镀膜设备 |
| 厚度 | 3–6 mm | 影响沉积速度与散热性能 |
| 密度 | ≥95–98% TD | 决定溅射均匀性与膜致密度 |
| 相组成 | TaSi₂/Ta₅Si₃/TaSi | 决定电阻率与高温性能 |
| 背板 | Cu/Ti/In 焊 | 提升散热能力、防止靶材翘曲 |
| 材料 | 优势 | 典型应用 |
|---|---|---|
| TaSi | 高稳定性、适度电阻率、抗扩散 | 芯片金属化、光学膜 |
| TaN | 高硬度、耐磨、较低电阻率 | 半导体阻挡层、装饰膜 |
| TiSi₂ | 更低的电阻率 | 深亚微米互连结构 |
| Ta 金属 | 绝佳耐腐蚀、高熔点 | 电极、保护层 |
| 问题 | 答案 |
|---|---|
| TaSi 可用于 DC 或 RF 溅射吗? | 适用于两者。 |
| TaSi 与 TaSi₂ 的区别? | TaSi₂ 电阻率更低,TaSi 更耐高温。 |
| 是否易氧化? | 具有高稳定性,短时间空气暴露无影响。 |
| 可否与其他材料共溅射? | 可与 Ta、Si、N、氧化物共溅射制备复合膜层。 |
| TaSi 薄膜的电阻率? | 由相组成决定,一般 TaSi₂ 较低。 |
| 是否兼容 Si、玻璃、金属基底? | 兼容性良好,附着性强。 |
| 是否支持大尺寸靶材? | 可定制至大面积矩形靶与大直径圆靶。 |
| 背板为什么重要? | 提升散热与机械稳定性,可防止溅射中开裂。 |
所有硅化钽靶材均采取:
真空密封 + 防静电包装
防震泡沫填充
出口级木箱运输
确保靶材在长途运输中的结构完整与表面洁净。
硅化钽(TaSi)靶材以其高熔点、高稳定性与优良电学特性,在先进半导体工艺、光学镀膜与功能材料开发中具有不可替代的地位。其优异的抗扩散性能使其成为高端金属化结构的重要材料。
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