硅化钽靶材(TaSi)

产品简介(Introduction)

硅化钽靶材(TaSi)是一种典型的金属间化合物靶材,结合了钽(Ta)的高熔点与化学惰性,以及硅(Si)的优异界面特性,能形成高稳定性、优异导电性及抗扩散能力的功能薄膜。在先进半导体制造、光电镀膜、耐高温保护膜及微电子封装中,TaSi 是关键材料之一。

核心优势包括:

  • 卓越的 热稳定性与抗扩散能力,适用于高温沉积与后续退火;

  • 适度电阻率,可作为电极、阻挡层、过渡层使用;

  • 良好的 化学稳定性,适用于苛刻工况下的功能膜层;

  • 膜层结构致密、均匀,适合用于多层膜及光学膜。


产品详情(Detailed Description)

我司供应 高纯 99.9%(3N)– 99.99%(4N) 硅化钽靶材,采用真空热压烧结、CIP/HIP 加致密处理,确保靶材致密度高、晶相均匀、机械强度好,适用于高功率磁控溅射。

● 典型规格

  • 化学组成: TaSi₂(常用)、Ta₅Si₃、TaSi(可定制)

  • 尺寸范围: Ø25–300 mm 圆靶、矩形靶可定制

  • 厚度: 3–6 mm

  • 密度: ≥95–98% 理论密度(TD)

  • 制造工艺: 真空烧结 / 熔炼 + 热压 / HIP

  • 背板结合: 铜(Cu)、钛(Ti)、铟焊(In bonding)可选

● 工艺性能提升

高致密靶材有助于:

  • 减少颗粒(Particles),获得更洁净膜层;

  • 提升膜层附着力、改善应力结构;

  • 增强靶材耐热冲击能力,降低溅射过程中开裂风险;

  • 提高膜厚均匀性,适用于大面积镀膜。


应用领域(Applications)

● 半导体工艺

  • 金属化阻挡层(Barrier Layer)

  • 深亚微米互连结构

  • 栅电极材料

  • 高温稳定的界面层

● 光电与光学涂层

  • 反射膜、增强膜

  • 近红外吸收薄膜

  • 多层干涉膜系统

● 微电子封装

  • EMI 保护层

  • 导电/阻挡复合膜

  • 结构保护涂层

● 科研与材料开发

  • Ta-Si 金属间化合物体系研究

  • 共溅射复合薄膜制备

  • 高温耐蚀薄膜结构开发


技术参数(Technical Parameters)

参数 典型值 / 范围 重要性说明
纯度 99.9% – 99.99% 高纯靶材减少颗粒,提升薄膜稳定性
尺寸 Ø25–300 mm 适应主流及定制镀膜设备
厚度 3–6 mm 影响沉积速度与散热性能
密度 ≥95–98% TD 决定溅射均匀性与膜致密度
相组成 TaSi₂/Ta₅Si₃/TaSi 决定电阻率与高温性能
背板 Cu/Ti/In 焊 提升散热能力、防止靶材翘曲

相关材料对比(Comparison with Related Materials)

材料 优势 典型应用
TaSi 高稳定性、适度电阻率、抗扩散 芯片金属化、光学膜
TaN 高硬度、耐磨、较低电阻率 半导体阻挡层、装饰膜
TiSi₂ 更低的电阻率 深亚微米互连结构
Ta 金属 绝佳耐腐蚀、高熔点 电极、保护层

常见问题(FAQ)

问题 答案
TaSi 可用于 DC 或 RF 溅射吗? 适用于两者。
TaSi 与 TaSi₂ 的区别? TaSi₂ 电阻率更低,TaSi 更耐高温。
是否易氧化? 具有高稳定性,短时间空气暴露无影响。
可否与其他材料共溅射? 可与 Ta、Si、N、氧化物共溅射制备复合膜层。
TaSi 薄膜的电阻率? 由相组成决定,一般 TaSi₂ 较低。
是否兼容 Si、玻璃、金属基底? 兼容性良好,附着性强。
是否支持大尺寸靶材? 可定制至大面积矩形靶与大直径圆靶。
背板为什么重要? 提升散热与机械稳定性,可防止溅射中开裂。

包装与交付(Packaging)

所有硅化钽靶材均采取:

  • 真空密封 + 防静电包装

  • 防震泡沫填充

  • 出口级木箱运输

确保靶材在长途运输中的结构完整与表面洁净。


结论(Conclusion)

硅化钽(TaSi)靶材以其高熔点、高稳定性与优良电学特性,在先进半导体工艺、光学镀膜与功能材料开发中具有不可替代的地位。其优异的抗扩散性能使其成为高端金属化结构的重要材料。

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