氮化硅蒸发材料(SiN)

氮化硅蒸发材料(Silicon Nitride Evaporation Material,SiN)是一种由硅(Si)与氮(N)组成的高性能非金属氮化物蒸发材料,广泛用于真空热蒸发与电子束蒸发(E-beam Evaporation)等 PVD 薄膜沉积工艺。
SiN 以其优异的电绝缘性能、化学稳定性、高温耐受性以及良好的介电特性,在半导体、微电子与光学薄膜领域中具有极高的工程与科研价值。

在需要薄膜同时满足电绝缘、致密阻隔与长期稳定性的应用场景中,氮化硅是一类成熟度高、可靠性突出的蒸发材料选择。

产品详情(Detailed Description)

氮化硅蒸发材料通常以高纯硅源为基础,通过受控氮化反应与高温合成工艺制备形成稳定的 Si–N 化合物相(常见为 Si₃N₄)。在原料提纯、化学计量控制、相结构稳定与致密化处理的全过程中,严格控制氧、碳等杂质含量,以确保蒸发过程中成分稳定、蒸发行为可控、薄膜介电性能重复性高

  • 纯度等级:99.5% – 99.99%(科研与半导体常用)

  • 材料体系:Si–N(氮化硅,SiN / Si₃N₄)

  • 电学特性:高电阻率、优良介电性能

  • 化学特性:耐腐蚀、耐湿热、化学惰性强

  • 热学特性:高温稳定、低热膨胀

  • 成膜优势:膜层致密、针孔率低、应力可调

  • 供货形态:颗粒 / 块状 / 压片 / 定制形态,适配钼舟、钨舟或电子束坩埚

对于高致密、低缺陷的介电薄膜,电子束蒸发更有利于实现稳定沉积。

应用领域(Applications)

  • 半导体器件薄膜:介电层、钝化层、扩散阻挡层

  • 微电子与MEMS:结构与绝缘薄膜

  • 光学薄膜:减反膜、保护膜、应力调控层

  • 显示与光电器件:绝缘与保护层

  • 多层复合膜系:与 SiO₂、Al₂O₃、TiO₂ 等材料组合

  • 科研与实验室应用:介电与界面工程研究

技术参数(Technical Parameters)

参数 典型值 / 范围 重要性说明
化学组成 SiN / Si₃N₄ 决定介电与化学性能
纯度 99.5% – 99.99% 控制缺陷与漏电
电阻率 绝缘与介电应用
热稳定性 优良 高温工艺兼容
化学稳定性 极佳 长期可靠性
供货形态 颗粒 / 块状 / 压片 适配蒸发设备
蒸发方式 热蒸发 / 电子束蒸发 工艺灵活

相关材料对比(Comparison with Related Materials)

材料 主要优势 典型应用
氮化硅蒸发材料(SiN) 绝缘、致密、稳定 半导体介电层
二氧化硅(SiO₂) 工艺成熟 光学与绝缘
氮化铝(AlN) 绝缘、耐热 功能绝缘层
氮化钛(TiN) 导电 电极/阻挡层

常见问题(FAQ)

Q1:SiN 适合哪种沉积方式?
A:热蒸发与电子束蒸发均可;高致密介电层建议电子束蒸发。

Q2:SiN 薄膜的主要优势是什么?
A:高绝缘性、致密结构与优异的化学稳定性。

Q3:是否适合半导体工艺?
A:适合,常用于介电、钝化与阻挡层。

Q4:是否可用于光学薄膜?
A:可以,用于减反、保护及应力调控层。

Q5:膜层附着力如何?
A:在 Si、玻璃、金属及陶瓷基底上表现良好。

Q6:是否可与其他材料形成多层膜?
A:可以,常用于介电/功能多层结构设计。

Q7:蒸发过程是否稳定?
A:在合理功率与真空条件下,蒸发过程稳定、重复性高。

Q8:应用更偏科研还是工程?
A:同时适用于科研与成熟工程应用。

包装与交付(Packaging)

所有氮化硅蒸发材料在出厂前均经过成分与外观检测,并贴附唯一可追溯标签。产品采用真空密封、防潮、防震缓冲与出口级包装方案,确保运输与储存过程中材料的成分稳定性与使用可靠性

结论(Conclusion)

氮化硅蒸发材料(SiN)凭借其优异的电绝缘性能、致密结构与长期稳定性,在半导体、微电子与光学薄膜领域中保持核心地位。对于需要高可靠介电与阻隔性能的真空蒸发薄膜制备应用,SiN 是一类工程成熟、应用广泛且可信度极高的专业蒸发材料选择

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