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氮化镓(GaN)是一种具有宽带隙、高击穿电压、高热导率和优异电子迁移率的III-V族半导体材料,是目前高频、高功率电子器件、光电子器件以及紫外/蓝光发光二极管(LED)制造中的核心材料。
氮化镓靶材(GaN Sputtering Target)可用于制备高质量 GaN 薄膜层,常用于微电子、光电、功率器件结构中的缓冲层、功能层或外延前期薄膜生长。其薄膜具有高击穿场强、低缺陷密度、良好热稳定性等特征,是先进半导体制造的重要薄膜来源。
GaN 靶材的制备通常采用以下工艺:
高温固相反应(High-Temperature Solid-State Reaction)
热等静压烧结(HIP)
真空烧结(Vacuum Sintering)
CIP + 高温烧结
典型性能与规格:
纯度:99.9%(3N)– 99.999%(5N)
相结构:六方纤锌矿结构
致密度:≥ 95%–99% 理论密度(TD)
尺寸:直径 25–300 mm,可定制矩形靶
厚度:3–6 mm,可按设备需求调整
颜色:深灰色至蓝灰色
背板:Cu / Mo / Ti / In bonding(高功率溅射推荐)
选择高致密度 GaN 靶材能够带来:
更稳定的溅射速率
更低颗粒生成
更均匀的薄膜成分分布
更长的靶材寿命
更可控的薄膜应力与晶体取向
GaN 是典型硬脆陶瓷材料,因此工艺控制与靶材致密性对薄膜质量尤为关键。
GaN 薄膜用于:
高电子迁移率晶体管(HEMT)
功率放大器(PA)
高频 RF 器件
车载充电系统(OBC)
5G 基站与雷达器件
其高击穿场强与高电子迁移率是硅器件无法替代的优势。
GaN 是蓝光、紫外光电子结构的关键材料:
LED / Micro-LED
激光二极管(LD)
紫外探测器(UV PD)
常与 AlN、InN 组合形成 AlGaN / InGaN 多量子阱结构。
溅射 GaN 薄膜可作为:
MOCVD 外延前的种子层
缓冲层结构
晶格调节层
高温稳定功能膜
其表面质量影响后续外延生长质量。
GaN 薄膜适用于:
压电器件
微机电系统(MEMS)
高温传感器
晶体管结构的阻挡层
| 参数 | 典型值 / 范围 | 重要性说明 |
|---|---|---|
| 纯度 | 3N–5N 可选 | 影响薄膜缺陷密度、电学特性 |
| 成分 | GaN | III-V 半导体结构 |
| 直径 | 25–300 mm | 适配 ICP、RF、Magnetron 设备 |
| 厚度 | 3–6 mm | 决定靶材寿命与沉积稳定性 |
| 致密度 | ≥95–99% TD | 致密度越高,颗粒越少 |
| 背板 | Cu/Ti/Mo/In | 强化散热与机械可靠性 |
| 可兼容溅射方式 | RF / DC(需中间层)/ Pulsed DC | GaN 是典型绝缘材料 |
| 材料 | 特点 | 应用 |
|---|---|---|
| GaN | 宽带隙、高迁移率 | 功率器件、LED、RF 结构 |
| AlN | 高热导、绝缘性 | 滤波器、散热层 |
| InN | 窄带隙、电子迁移率高 | 光通信、量子器件 |
| SiC | 高热导率、强耐压 | 功率电子、车载电子 |
| 问题 | 答案 |
|---|---|
| GaN 靶材适合哪种溅射方式? | 主要为 RF 溅射,也可用于脉冲 DC。 |
| GaN 靶材是否易碎? | 是,属于硬脆材料,需要特殊处理与包装。 |
| 薄膜是否可以作为外延模板? | 可以,常用于 MOCVD 外延前的模板与缓冲层。 |
| 是否需要背板? | 高功率溅射推荐 Cu/Mo 背板以保证散热。 |
| GaN 的带隙是多少? | 约 3.4 eV。 |
| GaN 可否共溅射? | 可与 Al、In 等材料共溅射制备 AlGaN、InGaN。 |
| 可否定制多晶或单晶靶? | 多晶为主,如需单晶可提供定制方案。 |
| 是否支持 8 英寸或 12 英寸靶材? | 支持,适用于产业化产线。 |
| 是否会产生较多颗粒? | 高致密靶材颗粒率低,适合高端工艺。 |
| GaN 是否适合高温制膜? | 适合,可耐受高能粒子轰击与高腔体温度。 |
真空铝塑袋密封
防静电包装
多层防震保护结构
气密包装防受潮
出口认证木箱运输
每片靶材附唯一序列号 + 检测报告
确保运输过程中的完整性与材料稳定性。
氮化镓靶材(GaN)凭借其宽带隙、高迁移率、高耐压与优越热稳定性,是下一代半导体、光电、RF 及功率电子技术的核心薄膜材料。高纯度、高致密度 GaN 靶材可显著提升薄膜质量,是科研开发与产业化生产的重要选择。
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